| Place of Origin: | SUZHOU |
|---|---|
| 브랜드 이름: | PHOENIX |
| 인증: | LM80 CE ROHS |
| Model Number: | 2016 |
| Minimum Order Quantity: | 16000PCS |
| 가격: | 협상 가능 |
| Packaging Details: | 4000PCS /ROLL |
| Delivery Time: | 7-10 DAYS |
| Payment Terms: | Western Union, MoneyGram, T/T |
| Supply Ability: | 400KK PER MONTH |
| 이름: | SMD LED 2016 화이트 색 | 빛을 내는 흐름(lm): | 28-30lm |
|---|---|---|---|
| 연색성 지수(ra): | 80 | CCT: | 6500K |
| 힘: | 0.2W | 나풋 전압(V): | 3V |
| 보증(년): | 2년이요 | 작업 시간 (시간): | 20000 |
| 작동 온도(C): | -40-85 | 램프 발광 효율 (루멘 / Ｗ): | 140 |
백라이트링 높은 루멘 2016년 3V 60MA 0.2W 26-28LM 6500K PCT SMD LED 칩 전화 플래시 조명
1.제품 프리처스
.6500K, CRI 80을 위해 전형적인 140 lm/W의 효력
.대전 방지 좋은 안정 극저 희석, 상등품 칩과 프레임을 채택합니다
.고 휘도, 낮은 감약 하이 컬러 연기
. 최저치 80, 90과 95 CRI 선택
.강한 용접과 좋은 안정 죽은 사람 빛
.적합렬과 전방에 회사 로고
. CE ROHS LM80 인증
.시야 각도 :120 deg
.적합한 로에스 순응하는 무연 솔더링
2.패키지 구조물
3.절대 최대 정격
| 항목 | 기호 | 절대 최대 정격 | 유닛 |
| 순방향 전류 | 조건 | 60 | 마 |
| 역 전압 | Vr | 5 | Ｖ |
| 펄스용 순방향 전류 | IFP* | 90 | 마 |
| 전력 소모 | PD | 0.2 | Ｗ |
| 작동 온도 | 상부 | -40~85 | Ｃ |
| 저장 온도 | TST | -40~85 | Ｃ |
| 정전기 방전 | ESD | 2000(hbm) | Ｖ |
| 접합 온도 | 트제이 | 110 | Ｃ |
| LED 열 저항 | R번째 s-j | 27 | C/W |
4.전형적 전기 광학적 특징적 커브
5.LED 신뢰성 검사 목록
| 테스트 항목 | 엑스페리먼트 조건 | 표준 | qty(PC) |
| 내구 시험 | 25C,1000Hrs@60mA | / | 22 |
| 고온 | 85C,1000Hrs@60mA | / | 22 |
| 저온 | -40C,1000Hrs@60mA | / | 22 |
| 고습도 열 | 85C,85%RH, 1000Hrs@60mA | / | 22 |
| 저온 저장 | -40C,1000Hrs | JEITA ED-4701 200 202 | 22 |
| 고온보관시험 | 100C,1000Hrs | JEITA ED-4701 200 201 | 22 |
| 온도 사이클 | (- 40'C 30 감독이 필요한 미성년자 --25'C(5mins)--100'C(30mins), 임시 변경율 :분 3+/-0.6'C /) | JEITA ED-4701 100 105 | 22 |
| 열 충격 | -40'C(15mins) --100'C(15mins), 시간 변경 <5mins> | MIL-STD-202G | 22 |
| 펄스 내구 시험 | 3×60mA,1000Hrs에 있는 Tp=1ms,DC=0.1,D=Tp/T | / | 22 |
| ESD 테스트(hbm) | 2000V,200V/Step, 둘다 3 배 포워드 & 리버스 시험 | AEC (Q101-001) | 22 |
| 내용접성 | 260±5C,10S,3times 예비 처리 30C,70%RH | JEITA ED-4701 300 302 | 22 |
| 정맥내 쇠퇴를 역류하세요 | 260±5C,10S,1time 예비 처리 30C,70%RH,168Hrs | / | 22 |
| 판단 기준 | |||
| 순방향 전압 VF | VF 맥스 증가 < 1=""> | ||
| 역류 적외선 | IR 맥스 증가 < IRmax=""> | ||
| 정맥내인 광도 | IV 쇠퇴 < 40=""> | ||
| ※Solder 능력 시험 기준 :적용 범위는 95%보다 못하진 않습니다 | |||
| 기록 :측정은 피검 시료가 (일반적으로 2 시간 뒤에) 보통 주변 조건으로 되돌아 갔던 후에 잡힐 것입니다 | |||
